超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測(cè)系統(tǒng)|上海恩迪檢測(cè)控制技術(shù)有限公司|無損檢測(cè)設(shè)備

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[供應(yīng)]超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測(cè)系統(tǒng)

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產(chǎn)品產(chǎn)地：上海
產(chǎn)品品牌：恩迪
包裝規(guī)格：納米焦點(diǎn)DR檢測(cè)系統(tǒng)
產(chǎn)品數(shù)量：10
計(jì)量單位：臺(tái)
產(chǎn)品單價(jià)： 8000000
更新日期：2017-08-28 13:57:26
有效期至：2027-08-26
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超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測(cè)系統(tǒng) 詳細(xì)信息

超高分辨率納米焦點(diǎn)DR檢測(cè)系統(tǒng)

關(guān)鍵特征：

190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點(diǎn)射線 JIMA卡空間分辨率測(cè)試可達(dá)0.5微米支持多種平板探測(cè)器，探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米

主要技術(shù)規(guī)格：

微米焦點(diǎn)射線管

類型

穿透型納米焦點(diǎn)射線管

最大管電壓

190kV/225kV/240kV

冷卻

封閉式自循環(huán)冷卻

焦點(diǎn)大小

0.5微米(采用JIMA卡測(cè)試)

探測(cè)器

類型

非晶硅平板探測(cè)器

像素大小

100um /127um /139um/200um

像素?cái)?shù)量

平板探測(cè)器：>2048′2048

機(jī)械系統(tǒng)

類型

高精度機(jī)械系統(tǒng)

最大有效檢測(cè)范圍

可定制化

最大承重

可定制化

旋轉(zhuǎn)

nx3600

軟件

類型

二維射線檢測(cè)

軟件功能

系統(tǒng)控制、二維射線檢測(cè)、平板探測(cè)器校正、圖像處理、灰度分析、圖像濾波、測(cè)量功能、支持定制化軟件功能

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