技術(shù)參數(shù)：

設(shè)備名稱：冷熱沖擊試驗箱

              型號：B-TS-602

系統(tǒng)符合MIL  STD，GB，GJB，JIS，JEDEC，IEC等測試標準.

其中的部分標準如下：

GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

1沖擊范圍：-65~150℃

2蓄熱區(qū)溫度范圍：+80~200℃

3  蓄冷區(qū)溫度范圍：-30~-80℃

4  測試區(qū)溫度范圍：

        高溫：+60~150℃

        低溫：0~-65℃

5  溫度偏差：  ±2.0℃

6  溫度恢復(fù)時間：5分鐘內(nèi) 

7  轉(zhuǎn)換時間：8秒內(nèi)

8  負載：10KG

9  沖擊方式：三箱式

上海柏毅根據(jù)多年和半導體行業(yè)的客戶接觸總結(jié)了一下。半導體行業(yè)做冷熱沖擊試驗是最常做的沖擊條件。據(jù)此測試條件為半導體行業(yè)量身定制了幾款專用設(shè)備。如果有興趣歡迎來電詳談021-39506091/59592605