跌落試驗(yàn) 
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[ 項(xiàng)目詳細(xì)介紹 ]  
本試驗(yàn)通常是主要用來(lái)模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶(hù)測(cè)試規(guī)范來(lái)決定）。

對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿(mǎn)足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。
參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.8，ISTA，IEC60068-2-32，GB-T4857.5等。

 設(shè)備相關(guān)參數(shù)：

  最大負(fù)載:500Kg        


最大跌落高度：1000mm
 

 
   
  
 
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