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          北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

          主營(yíng):技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)服務(wù)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、銷(xiāo)售儀器儀表
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          [供應(yīng)]供應(yīng)GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)
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          • 產(chǎn)品產(chǎn)地:
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          • 包裝規(guī)格:
          • 產(chǎn)品數(shù)量:0
          • 計(jì)量單位:
          • 產(chǎn)品單價(jià):0
          • 更新日期:2023-12-27 14:36:29
          • 有效期至:2024-12-26
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          供應(yīng)GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)信息

           

          GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)(包含薄膜,塊體功能)


          關(guān)鍵詞:四探針,電


          GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)(包含薄膜,塊體功能)是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能,該系統(tǒng)可以完全實(shí)現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測(cè)量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子層的方塊電阻及測(cè)量其他方塊電阻。該系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高等院校和科研院所,是科研的重要設(shè)備。

          二、符合:

          1、符合GB/T1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、

          2、符合GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?

          3、符合美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)

          二、產(chǎn)品應(yīng)用:

          1、測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

          2、可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜電阻率/方阻

          3、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)電阻率/方阻

          4、納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻

          5、電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量

          6、可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻

          三、主要技術(shù)參數(shù)

          溫度范圍:RT-1000℃
          升溫斜率:0-10℃/min(典型值:3℃/min)
          控溫精度:±0.1℃
          電阻測(cè)量范圍:0.1mΩ~1MΩ
          電阻率測(cè)量范圍:100nΩ..cm~100KΩ .cm
          測(cè)量環(huán)境:惰性氣氛、還原氣氛、真空氣氛
          測(cè)量方法:四線電阻法,探針?lè)?br/> 測(cè)試通道:?jiǎn)瓮ǖ阑蚴请p通道
          樣品尺寸:10mmx10mmX20mm或φ<20mm,d<5mm
          電極材料:鉑銥合金電極(耐高溫,抗氧化)
          絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
          數(shù)據(jù)存儲(chǔ)格式:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類(lèi)保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

          數(shù)據(jù)傳輸:USB
          符合標(biāo)準(zhǔn):ASTM
          供電:220V±10%,50Hz
          工作溫度:5℃至 +40 ℃;

          工作濕度:+40 ℃時(shí),相對(duì)濕度高達(dá) 95%(無(wú)冷凝)
          設(shè)備尺寸: L360mm*W370mm*H510mm
          重量:22kg

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