NRIO02

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銷售部洪先生：18965131356（微信同號(hào)）固話：0592-5072236QQ：1665532815

帶程序的芯片 
     
    1.eprom芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序， 
     
    故在測(cè)試中不會(huì)損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致，隨著 
     
    時(shí)間的推移(年頭長了)，即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 
     
    盡可能給以備份. 
     
    2.eeprom，sprom等以及帶電池的r *** m芯 *** ，均極易破壞程序.這類芯片 
     
    是否在使用<測(cè)試儀>進(jìn)行vi曲線掃描后，是否就破壞了程序，還未有定 
     
    論.盡管如此，同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí)，還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 
     
    多次試驗(yàn)，可能大的原因是:檢修工具(如測(cè)試儀，電烙鐵等)的外殼漏電 
     
    所致. 
     
    3.對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來. 
     
    二.復(fù)位電路 
     
    1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí)，應(yīng)注意復(fù)位問題. 
     
    2.在測(cè)試前最好裝回設(shè)備上，反復(fù)開，關(guān)機(jī)器試一試.以及多按幾次復(fù) 
     
    位鍵. 
     
    三.功能與參數(shù)測(cè)試 
     
    1.<測(cè)試儀>對(duì)器件的檢測(cè)，僅能反應(yīng)出截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū).但不 
     
    能測(cè)出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等. 
     
    2.同理對(duì)ttl數(shù)字芯片而言，也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
     
    法查出它的上升與下降沿的速度.

銷售部洪先生：18965131356（微信同號(hào)）固話：0592-5072236QQ：1665532815

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