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[供應]涂層測厚儀奧林巴斯45mg測厚儀 上海斌瑞供
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：加拿大
- 產(chǎn)品品牌：Olympus
- 包裝規(guī)格：45mg
- 產(chǎn)品數(shù)量：999
- 計量單位：箱
- 產(chǎn)品單價：1
- 更新日期：2017-04-21 11:19:51
- 有效期至：2018-04-21
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涂層測厚儀奧林巴斯45mg測厚儀 上海斌瑞供
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涂層測厚儀奧林巴斯45mg測厚儀上海斌瑞供
45MG超聲測厚儀:操作簡便、堅固耐用、性能可靠 45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高I級超聲測厚儀。這款獨具特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應用。 標準功能 45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過ZUI基本的培訓，就可完成ZUI常用的測厚應用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高I級的測厚儀，可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。 l 與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內部腐蝕的金屬的厚度進行測量l ZUI小值/ZUI大值模式l 兩個報警模式l 差值模式l 時基B掃描l 縮減率l 增益調整（標準、高、低）l 密碼式儀器鎖定 帶有可選橡膠保護套和支架的45MG儀器 抵御惡劣環(huán)境的能力 l 堅固耐用，設計符合IP67標準。l 爆炸性氣氛：可在國I家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安I全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。l 防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15g，11msec半弦波。l 防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。l 寬泛的操作溫度范圍l 可選的帶有支架的橡膠保護套 簡便操作的設計理念 l 可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)l 可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面l 使用內置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式l USB通訊端口l 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器l 默認或自定義單晶探頭設置（可選）l 密碼保護方式的儀器鎖定l 彩色透反QVGA顯示，帶有室內和室外顏色設置，具有極I佳的清晰度 可選功能只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激I活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領域中用途ZUI廣I泛的測厚儀行列。 回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，在進行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷，進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25MHz到30MHz的單晶Microscan探頭相兼容。單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進行厚度測量?？膳c范圍在0.5MHz到30MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。帶有波形調整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰(zhàn)性的應用中ZUI大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、首I個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。 室內顯示設置，可選A掃描模式 室外顯示設置，可選A掃描模式 使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量 45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結構的剩余厚度。這些應用中ZUI常使用的是雙晶探頭。 l 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能l 當校準過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告l 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面l 高溫測量：溫度可高達500 °C]B掃描成像（基于時間） 45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激I活B掃描。凍結ZUI小值功能用于顯示掃查區(qū)域的ZUI小厚度值?？蛇x45MG數(shù)據(jù)記錄器ZUI多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。 室內顯示設置，B掃描模式 回波到回波/穿透涂層選項 回波到回波 測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：l 自動回波到回波l 手動回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項），可進行以下操作：? 增益調整? 擴展空白? 回波空白 顯示A掃描的自動回波到回波模式 調整第一個回波空白的手動回波到回波模式 高溫表面 45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 oC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的精確性。 穿透涂層技術 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激I活） 顯示可選波形的穿透涂層模式 使用單晶探頭對工件進行精確測量對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量 使用單晶探頭 用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。 l 在使用頻率范圍為2.25MHz到30MHz的單晶探頭時，單晶軟件選
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