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          鉑悅儀器(上海)有限公司成都辦事處

          主營:臺階儀,光學(xué)輪廓儀,臺階儀探針,AFM探針,AFM針尖,原子力顯微鏡探針,VEECO探針,BRUKER探針,哈氏槽,赫爾槽,電鍍槽,電鍍陽極,哈氏槽整流器,實驗室通用耗材等
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          [供應(yīng)]供應(yīng)德國BMT WLI白光干涉儀
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          • 產(chǎn)品產(chǎn)地:德國
          • 產(chǎn)品品牌:BMT
          • 包裝規(guī)格:WLI白光干涉儀
          • 產(chǎn)品數(shù)量:
          • 計量單位:
          • 產(chǎn)品單價:
          • 更新日期:2014-09-29 09:11:19
          • 有效期至:2015-09-29
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          供應(yīng)德國BMT WLI白光干涉儀 詳細信息

          采用ACM 600 共焦顯微鏡可對物體的表面和結(jié)構(gòu)進行非接觸式的測量,評估和顯示。裝配不同的顯微物鏡,測量視場大小和精度也不同。視場的擴展可通過釘合的方式來實現(xiàn)。  
          ACM 600 使用特殊的微透鏡掃描盤,使采集的單個測量點相互平行。ACM 600目前是唯一商業(yè)化的采用微透鏡掃描盤的儀器。與尼普科夫掃描盤相比,微透鏡掃描盤使光學(xué)系統(tǒng)反應(yīng)快速,所以即使暗淡的表面也能夠獲得良好的測量結(jié)果。它的另外的獨特之處在于采用了LED作為光源,避免了使測量頭發(fā)熱,因而它的壽命幾乎可以視為無限長。儀器配備了物鏡切換盤,可以快速轉(zhuǎn)換物鏡。
          檢測物件的設(shè)定和測量全過程可以通過一個獨立的監(jiān)視器觀察。測量軟件基于Windows XP操作系統(tǒng)編制,并提供所有標(biāo)準(zhǔn)的評估程序。  
          儀器結(jié)構(gòu)緊湊,耐用,特別適用于工業(yè)用途。在微透鏡掃描盤自動伸出后,儀器可作為普通的顯微物鏡使用。 

          主要用途:
          粗糙和光滑表面的測量和顯示
          亞微米范圍內(nèi)的微觀形貌測量
          金相測量
          非接觸式表面輪廓的計量

          主要特點
          0,1mm2到0,7mm2視場 
          采用釘合方式擴大視場
          配置物鏡切換盤
          確定垂直分辨率來設(shè)定測量時間
          橫向分辨率可達1祄,垂直分辨率最高可到5 nm  
          具有采用微透鏡掃描盤的快速光學(xué)系統(tǒng)
          全自動數(shù)據(jù)評估
          實驗室和在線兩用設(shè)計 

          主要優(yōu)點:
          高保真輪廓復(fù)現(xiàn),對物體三維結(jié)構(gòu)快速,非接觸式的定性和量化
          測量結(jié)果與材料表面性能無關(guān)
          根據(jù)用戶需求配置系統(tǒng)和軟件 
          無人干預(yù)全自動測量過程
          將微透鏡掃描盤自動伸出后可作為普通的顯微物鏡使用
          采用壓電驅(qū)動或步進電機進行垂直掃描 

          軟件:
          Windows XP 操作系統(tǒng) 
          測量和評估軟件包括下列功能:  
          水平調(diào)整,圖像縮放, 輪廓線的提取,毛刺的剔除, 過濾,數(shù)學(xué)計算,F(xiàn)FT,ACF,2D/3D 粗糙度參數(shù),面積的測定,斜度和波度的分布狀態(tài)及其它。  
          用戶特定要求的計算方法 

          技術(shù)數(shù)據(jù):
          共焦顯微鏡頭
          標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格配置50x/0.8物鏡
          帶有微透鏡掃描盤的掃描共焦傳感器

          光源: LED
          壽命 h: > 50,000小時
          采用步進電機時的測量范圍mm:50mm
          采用壓電執(zhí)行器件時的測量范圍μm: 100/150μm
          最高垂直分辨率 nm: 5nm
          最高橫向分辨率μm: 1μm
          工作距離mm: 0.66mm
          視場μm: 370 x 280μm
          256個高度臺階的測量時間s: 約 30秒
          重量kg:約12kg

          測量工作臺 
          X、Y、Z每軸位移mm: 50mm
          最小步距μm : 1μm

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