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[供應(yīng)]Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀套件
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：美國
- 產(chǎn)品品牌：Sinton
- 包裝規(guī)格：BCT-400
- 產(chǎn)品數(shù)量：1
- 計量單位：臺
- 產(chǎn)品單價：1
- 更新日期：2024-07-05 08:45:05
- 有效期至：2034-07-03
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Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀套件
詳細信息
深圳市灣邊貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng)美國Sinton公司BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀，歡迎來電咨詢！
深圳市灣邊貿(mào)易有限公司優(yōu)勢供應(yīng)Sinton少子壽命測量儀，BCT-400測試硅錠，BLS-I測試硅棒，SintonX-閃光燈頭，SintonX5D閃光燈頭，SintonX閃光燈座。
SintonBCT-400少子壽命測量儀
BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.
是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備，具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測量模式。該設(shè)備可探測3mm深度范圍少子壽命，并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值，可實現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測量，并能通過軟件端光強偏置實現(xiàn)單晶缺陷密度計算。
SintonBLS-I少子壽命測量儀
BLS-I測量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴(yán)格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
BLS-I/BCT-400產(chǎn)品規(guī)格
壽命值測量范圍：100ns至>10ms
電阻率測量范圍：0.5-300Ohm-cm
測量（分析）模式
環(huán)境工作溫度：20°C-25°C
電源：BLS-I/BCT-400:40W
計算機與顯示器:200w
光源:60w
尺寸（無手柄）
BLS-I:7.9cmWx16.3cmDx12.7cmH
BCT-400:6.1cmWx15.0cmDx12.7cmH
通用電壓：100-240VAC50/60Hz
源自：深圳市灣邊貿(mào)易有限公司，更多詳情歡迎來咨詢！
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