詹先生；13590200716 開短路測試（又稱OPEN/SHORT 測試，O/S測試），主要是用于測試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，具體點說就是測試一個電子器件應該連接的地方是否連接，如果沒有連接上就是開路，如果不應該連接的地方連接了就是短路。 用途： 開短路測試應用非常的廣泛，例如：測試PCB板，測試IC邦定線，測試IC的封裝，測試線材，測試FPC，測試薄膜開關，測試連接器等等，不同的應用又有比較特別的需求，例如，測試PCB板是不僅要測試開短路，還要測試漏電，測薄膜開關還要測試連線的電阻值；對于線材測試儀，比較精密的線材根據(jù)要求，有些也要測試漏電與阻值及其他的要求，由于這些測試不僅要測試開短路，還要測試其他的參數(shù)，因此都有專用的儀器，如ICT，薄膜開關測試儀，線材測試儀等。 詞意變化： 如果沒有特別的指出，所謂的開短路測試，都是指測試邦定線的開短路測試，IC的開短路測試，例如“開短路測試儀”指的就是測試邦定/IC開短路的儀器，當然所處的行業(yè)不同，在不同的行業(yè)中，說開短路測試就是指的這個行業(yè)的產(chǎn)品的開短路測試，如果是一間PCB廠，說要