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金屬鍍層厚度采取的測(cè)試方法有：1、光學(xué)顯微鏡法2、庫(kù)侖法3、X射線熒光法（XRF）其他的金屬鍍層測(cè)試有1、鍍鋅、鍍鋁鋅量測(cè)試2、鍍鋁量測(cè)試3、磷化物轉(zhuǎn)化膜重量測(cè)試4、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜厚度（重量法）5、鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化膜封孔質(zhì)量6、剪切試驗(yàn)7、杯突試驗(yàn)鍍層厚度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1、光學(xué)顯微鏡法包括：1.GB/T 6462-2005                    2.ASTM B487-07                    3.ISO 1463-2003                    4.EN ISO 1463-2004                    5.JIS H8501-19992.庫(kù)侖法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括：1.ASTM B504-07                       2.GB/T 4955-2005                       3.ISO 2177-2003                       4.DIN EN ISO2177-2004                       5.JIS H8501-19993. X射線熒光法（XRF）檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T 16921-05                               2.ISO 3497-2000                               3.DIN EN ISO 3497-2001                               4.ASTM B568:1998                               5.ASTM A754-2006                           &nb