來(lái)自德國(guó)aixACCT公司的TFANALYZER2000E/3000是擴(kuò)展性極強(qiáng)的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功廴能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
模塊化設(shè)計(jì)的TFAnalyzer2000E/3000具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。
FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試；
MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試；
RX模塊-弛豫電流測(cè)試；
DR模塊-自放電測(cè)試。
TFAnalyzer2000E:
測(cè)試基本單元：包括內(nèi)置完整的專(zhuān)用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，欣源科技（北京）有限公司，欣源科技（北京），Windows7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專(zhuān)用測(cè)試軟件等。
FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
DynamicHysteresis動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率（標(biāo)準(zhǔn)FE模塊0.001Hz~5kHz）；
StaticHysterestic靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試；
PUND脈沖測(cè)試；
Fatigue疲勞測(cè)試；
Retention保持力；
Imprint印跡；
Leakagecurrent漏電流測(cè)試；
ThermoMeasurement變溫測(cè)試功能。
FE模塊可選測(cè)試功能：
C-Vcurve電容-電壓曲線(xiàn)；
PiezoMeasurement壓電性能測(cè)試；
PyroelectricMeasurement熱釋電性能測(cè)試；
In-situCompensation原位補(bǔ)償；
DLCC動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能。
技術(shù)說(shuō)明：
電壓范圍： /-25V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至/-10KV）；
電滯頻率：5kHz（標(biāo)準(zhǔn)FE模塊）；
最小脈沖寬度：2μs；
最小上升時(shí)間：1μs；
電流放大范圍：1pA～1A；
最大負(fù)荷電容：1μF；
輸出電流峰值：/-1A。
可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS等。
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TFAnalyzer3000:
測(cè)試基本單元：包括內(nèi)置完整的專(zhuān)用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專(zhuān)用測(cè)試軟件等。
FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
DynamicHysteresis動(dòng)態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）；
StaticHysterestic靜態(tài)電滯回線(xiàn)測(cè)試；
PUND脈沖測(cè)試；
Fatigue疲勞測(cè)試；
Retention保持力；
Imprint印跡；
Leakagecurrent漏電流測(cè)試；
ThermoMeasurement變溫測(cè)試功能。
FE模塊可選測(cè)試功能：
C-Vcurve電容-電壓曲線(xiàn)；
PiezoMeasurement壓電性能測(cè)試；
PyroelectricMeasurement熱釋電性能測(cè)試；
In-situCompensation原位補(bǔ)償；
DLCC動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能；
ImpedanceMeasurement阻抗測(cè)試(僅適用于高速增強(qiáng)型)。
技術(shù)說(shuō)明：
電壓范圍： /-25V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至/-10KV）；
電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；
最小脈沖寬度：50ns；
最小上升時(shí)間：10ns；
最大疲勞頻率：20MHz；
電流放大范圍：1pA～1A；
最大負(fù)荷電容：1nF；
輸出電流峰值：/-1A。
可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。
MR模塊是用來(lái)研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。
RX模塊是用來(lái)研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi)，.欣源科技（北京）|||鐵電分析儀
，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。
DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況，因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。
針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用，TFAnalyzer2000E/3000提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道，大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能。
以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。
欣源科技SYNERCE獨(dú)家代理德國(guó)aixACCT公司鐵電壓電熱釋電分析儀等系列產(chǎn)辶品，.欣源科技（北京）|||鐵電分析儀
，包括：
鐵電分析儀(鐵電測(cè)試儀、TF2000E、TFAnalyzer2000E/3000、極化測(cè)量?jī)x)/壓電分析儀(壓電測(cè)試儀)/熱釋電分析儀(熱釋電測(cè)試儀)，壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES、多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀aixPES-MR、高低溫塊體壓電分析儀aixPES-600/800、電卡效應(yīng)測(cè)試儀ECM、熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀TSDC、超薄薄膜壓電雙光束激光干涉儀aixDBLI、陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀(aixCMA、陶瓷多層驅(qū)動(dòng)器測(cè)試儀、陶瓷多層電容器測(cè)試儀)，機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀aix4PB、阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀RRAM、鐵電遲豫電流測(cè)試儀aixPES-RX、鐵電自放電測(cè)試儀aixPES-DR、鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀FeRAM、熱電性能測(cè)試儀COMTESSE(塞貝克系數(shù)測(cè)試儀)。

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