優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率

獨特的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數(shù)據(jù)分析選項

用戶可自行設置數(shù)據(jù)輸出的界面

三十年技術創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品
我們的干涉儀是世界上第一個包含了著名的垂直掃描干涉技術（VSI模式），掃描頭傾斜調整，專利的自動校準和雙LED照明等革新技術。
ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能，又在硬件上進行了大量的改進，從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復性最好的光學輪廓儀性能。Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的，將近三十年的優(yōu)越性能運行跟蹤記錄，從研究型實驗室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。

ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。

OMM結合了Bruker專利的雙LED照明光源技術，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含最大三個視場目鏡，以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。

ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker專利技術的內(nèi)置一級標準自校準功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個參考信號，在儀器啟動時對系統(tǒng)進行自校準，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量，以保證絕對的精確度和卓越的重復性。

Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。
*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGTX8型號上具有。

在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。

選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時，您的測試點始終處于聚焦和中心位置。

在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。

輔助操作燈泡*

塔臺

自動樣品臺

傾斜調整支架*

自校準功能*

光學計量模塊(OMM)

卓越的震動隔離性能*