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          深圳市旭升發(fā)機電設(shè)備有限公司

          主營:膜厚測試儀,CMI900,鍍層測厚儀
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          [供應(yīng)]供應(yīng)二手膜厚測試儀
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          • 產(chǎn)品產(chǎn)地:美國
          • 產(chǎn)品品牌:膜厚測試儀
          • 包裝規(guī)格:CMI900
          • 產(chǎn)品數(shù)量:1
          • 計量單位:臺
          • 產(chǎn)品單價:120000
          • 更新日期:2022-11-08 10:08:26
          • 有效期至:2032-11-05
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          供應(yīng)二手膜厚測試儀 詳細(xì)信息

          CMI900膜厚儀,二手膜厚測試儀,鍍層測厚儀,金屬鍍層測厚儀,CMI測厚儀,牛津測厚儀,膜厚測

          試儀,無損測厚儀,二手膜厚測試儀,X-RAY測厚儀,熒光測厚儀,合金分析儀,元素分析


           
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            聯(lián)絡(luò) 唐生 158 1865 3509  電郵 369823789@qq.com

          牛津無損電鍍膜厚測試儀CMI900 ,專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多

          鍍層膜厚測量,快速 精準(zhǔn) 無損,業(yè)內(nèi)廣受好評,客戶應(yīng)

          用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五

          金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗豐

          富,商業(yè)合作個方式靈活。同時經(jīng)營原裝OXFORD X光射線管 ETP SRP-4探頭等配

          件,CMI900 維修 回收 以及ROHS檢測設(shè)備國產(chǎn)頂級ROHS分析檢測儀,臺式元素分

          析儀。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點,是控制

          和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工

          業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
          無論您是購買 還是想了解產(chǎn)品的詳細(xì)介紹 請隨意聯(lián)絡(luò) 
          同時希望廣大銷售朋友在生意上多多關(guān)照



          儀器介紹
          CMI 900  系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用

          于材料的涂/鍍層  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提

          供準(zhǔn)確、快速的分析.基于WindowsXP
          中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900主機的全面

          自動化控制,
           PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)
          技術(shù)參數(shù):
          CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行

          業(yè)
          A  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液

          體,極薄的浸液鍍層
          (銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成

          份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
          B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um  (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
          C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分

          析報告格式要求 ;
          如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
          D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相

          對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)

          據(jù)分析模式。
          CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
          E :可測量任一測量點,最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
          牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

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